测试点数
标准配备：256点，可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
测试步骤
步骤：12288步骤，可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试：每1000点约1.5Sec（Tical DUT）
元件测试：每一元件约0.8mSec至30mSec（Tical DUT）
测试范围
电阻：0.1Ω至40MΩ电晶体：&plun;5V
电容：1.0PF至40mF Zener二体：标准配备，0.1V至48V
电感：1.0UH至60H 二体：0.1V至9.99V
隔离点电路
隔离点自动选择，每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限：＋1%至999%下限：-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备：420mm（宽）×300mm（深）×100mm（高）
选购配备：500mm（宽）×350mm（深）×130mm（高），更大尺寸基板可依需求订做。
产品说明：
TR518FR是德律科技为满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测。而高密度之设计及新软件技术，使TR518FR之测点可2560测试点，其速度亦较传统的I快80%以上。
产品特色：
的Reed Relay Switching设计，耐压，隔离效果优异
计算机自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向
大型主机设计，高密度Switching Board，可达2560测试点
可加装调整装置具动态调整功能。
标准配备：256点，可以每片开关板64点或128点扩充至1792点
测试步骤
步骤：12288步骤，可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试：每1000点约1.5Sec（Tical DUT）
元件测试：每一元件约0.8mSec至30mSec（Tical DUT）
测试范围
电阻：0.1Ω至40MΩ电晶体：&plun;5V
电容：1.0PF至40mF Zener二体：标准配备，0.1V至48V
电感：1.0UH至60H 二体：0.1V至9.99V
隔离点电路
隔离点自动选择，每测试步骤5点
测试值上下限设定范围
上限：＋1%至999%下限：-1%至-99%
可测电路板尺寸
标准配备：420mm（宽）×300mm（深）×100mm（高）
选购配备：500mm（宽）×350mm（深）×130mm（高），更大尺寸基板可依需求订做。
产品说明：
TR518FR是德律科技为满足电子产业中各类产品对测试环境不同之要求，所推出之全系列产品之一。其切换电路板乃应用且高寿命之机械式Reed Relay，适用模拟产品及高压电流之检测，并可整合动态量测。而高密度之设计及新软件技术，使TR518FR之测点可2560测试点，其速度亦较传统的I快80%以上。
产品特色：
的Reed Relay Switching设计，耐压，隔离效果优异
计算机自动隔离点选择功能，自动判断信号源及信号流入方向
大型主机设计，高密度Switching Board，可达2560测试点
可加装调整装置具动态调整功能。
