- 是否全新:全新
- 测试范围: 54/74 系列 TTL 4000 及 4500 系列 CMOS DRIVE
- 量测种类:约 1800 种
- 测试电压: 2.5/3.0/3.3/5V DC
- 测试时间:高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
- 使用电源:交流 100V~240V +10% 50/60Hz
- 尺寸及重量: 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤
便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
尺寸及重量
便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
尺寸及重量
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤