芯片沾力测试仪
产品介绍：本厂制作的晶片沾力测试仪，操作简单，方便，设计合理，测试数据。
主要用途：于发光二管，数码管点阵固晶后，晶片的沾力测试。
技术参数：测量范围：0-20g
外观尺寸：450*400*350使用电压：22V 50Hz
测量范围：0~1000g 误差：0.5g
X轴行程：190mm Y轴行程：100mm
Z轴行程：15mm 显微镜：连续变倍。
产品介绍：本厂制作的晶片沾力测试仪，操作简单，方便，设计合理，测试数据。
主要用途：于发光二管，数码管点阵固晶后，晶片的沾力测试。
技术参数：测量范围：0-20g
外观尺寸：450*400*350使用电压：22V 50Hz
测量范围：0~1000g 误差：0.5g
X轴行程：190mm Y轴行程：100mm
Z轴行程：15mm 显微镜：连续变倍。
