CHERSCOPE X-RAY可以测量电镀层的厚度及分析材料成份。系统已经预设置有XRF方法分析材料或溶液的成份和含量。这个方法是根据ASTM B568, DIN 60 987 and ISO3497的规格来测量的。
测量应用类型:
Zn, Ni,Cr, Cu, Ag, Au, Sn等单镀层
铁上的SnPb, ZnNi and NiP on Fe. SnPb, ZnNi and NiP合金镀层
在镍上的AuCdCu三层合金镀层
在铜上的Au/Ni 、Cr/Ni，在镍Au/Ag，在黄铜上的Sn/Cu双层合金镀层
如Cr/Ni/Cu在塑料或铁上一层是合金层的双层镀层。
如果使用WinFTM? V.6可以测试多达24层的镀层
测量应用类型:
Zn, Ni,Cr, Cu, Ag, Au, Sn等单镀层
铁上的SnPb, ZnNi and NiP on Fe. SnPb, ZnNi and NiP合金镀层
在镍上的AuCdCu三层合金镀层
在铜上的Au/Ni 、Cr/Ni，在镍Au/Ag，在黄铜上的Sn/Cu双层合金镀层
如Cr/Ni/Cu在塑料或铁上一层是合金层的双层镀层。
如果使用WinFTM? V.6可以测试多达24层的镀层