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红外探伤测试仪 (HS-NIR-01)
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红外探伤测试仪 (HS-NIR-01)

产品价格:
电议
产品型号:
HS-NIR-01
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
北京合能阳光新能源技术有限公司
所属地区:
发布时间:
2014/1/24 14:47:47

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肖宗镛先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

北京合能阳光新能源技术有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

主营产品:硅料检测分选仪;硅料快速分选仪;少子寿命测试仪;氧碳测试仪;原生多晶型号测试仪;原生多晶电阻率测试仪;硅芯电阻率测试仪;硅片缺陷观测仪;重掺镊;拉晶工艺软件;硅母合金;籽晶;镓掺杂剂;探头

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【网址】https://www.henergysolar.com/product/hs-NIR-01.htm


多晶硅红外探伤测试仪(HS-NIR-01型)-是专门用于多晶硅片生产中的硅块硅棒硅片的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器。

红外探伤测试仪 - 主要原理:在特定光源和红外探测器的协助下,HS-NIR-01型多晶硅红外探伤测试仪能够穿透200mm深度的硅块,纯硅料几乎不吸收这个波段的波长,但是如果硅块里面有微粒、夹杂(通常为SiC)、隐裂,则这些杂质将吸收红外光,因此在成像系统中将呈现出来,而且这些图像将通过我们的软件自动生成三维模型图像。

HS-NIR-01型多晶硅红外探伤测试仪主要由红外光源,旋转台,成像系统构成。成像系统的参数设置包括光照亮度,对比度,伽马射线和一体化的时间设置,获取模式选择和损坏像素管理。旋转台由单轴伺服电机驱动,同时拥有光电编码器的位置检查的功能。软件也可以直接控制伺服电机。

通常都是在硅块清洗处理后线切割前进行红外探伤,在线切割前进行红外探伤不可以减少线痕片,而且可以减少SiC断线,大大效益,这些夹杂都可以清晰地反映在我们的红外探伤系统中。断线的是一个费时费力的工作,同时不是的断线够成功。因此它是多晶硅片生产中的工具。



红外探伤测试仪 - 产品特点
为太阳能多晶硅片过程中的质量控制提供了强大的监测工具
检测速度快,平均每个硅块检测时间为不过1分钟
NIRVision软件能够分析4面探伤结果,并且直接将结果转换成三维模型图像
成像过程将自动标出夹杂的位置所在
的加强型内插法为高分辨率的杂质探伤功能提供了强大的技术保障
采用欧洲数控工程铝合金材料
表面都采用了度漆面和电氧化工艺保护
系统外框采用高质量工业设计
的部件的设计都了长期度使用及小维护量的要求
能够通过自动或手动旋转对硅块的前后左右四面和上下两面进行探伤。
红外光源通过交直流光源进行控制,光强可以通过软件直接控制,同时它具有过热保护功能
同时软件包含了杂质图像的管理分析功能
稳定性和耐用性俱佳。
探伤测试面进行抛光处理,因此我们推荐在线切割之前进行红外探伤
红外成像光源受电阻率影响,硅块电阻率越低,则对红外光的吸收越多
一般电阻率不能低于0.5Ohm*Cm,我们推荐的电阻率在0.8Ohm*Cm以上



红外探伤测试仪 - 技术指标
主要探测指标:夹杂(通常为SiC),隐裂,微粒等
硅块电阻率:≥0.8Ohm*Cm(推荐)
检测时间:平均每个硅块1分钟
探测深度:200mm
外框和箱体
>尺寸:143x53x55
>外框采用数控工程铝合金
>外框是覆盖静电强力漆铝面板
>主机重量:98 kg
>附件重量:25 kg
旋转台
>采用单轴伺服电机
>承载量:40kg
>具有过流保护以损伤和电机烧毁
>无步进损失,高分辨率解码机器
红外光源
>度NIR卤灯,273mm加热波长
>功率:230V, 1000W
>温度:25-60摄氏度
>光强可通过软件控制
>软件具有过热保护
观测仪
>采用红外CCD控温
>12位ADC
>频率:60Hz和100Hz两个选择
>像素间距: 30μm
>分辨率:: 320x256 像素
>可手动调节红外镜头



红外探伤测试仪 - 合作用户
江西塞维LDK、中美晶、旭晶能源科技、达能科技等



 因该仪器自匈牙利,考虑到汇率波动问题

                       以欧元计价。阿里巴巴参考价格单位为欧元
电子邮件咨询:Sales@HenergySolar.com

联系方式

北京合能阳光新能源技术有限公司

联系人:
肖宗镛先生
传真:
86 10 60546837
类型:
工厂
地址:
北京市通州区 北京市通州区工业开发区光华路16号

服务热线

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