CMI900膜厚测试仪
CMI900是一款性价比高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
详细信息
X射线荧光光谱仪
快速的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大了灵敏度
简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
性能优化，测量元素范围广：可预设参数
CMI900提供800多种预设应用参数/方法
杰出的长期稳定性：
自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供要的纠正
坚固耐用的设计
可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
经行业验证的技术，在销售量过3000台
调整生产过程，从而生产力
元件性
测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制，从而产品生命周期
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度
电镀处理的成本小化，产量化
快速简单的分析
同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
多可分析4层（不包括基层）
镀液成份分析
珠宝及其他合金的快速分析
贵金属合金分析
黄金纯度分析
材料鉴定
CMI900是一款性价比高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
详细信息
X射线荧光光谱仪
快速的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大了灵敏度
简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
性能优化，测量元素范围广：可预设参数
CMI900提供800多种预设应用参数/方法
杰出的长期稳定性：
自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供要的纠正
坚固耐用的设计
可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
经行业验证的技术，在销售量过3000台
调整生产过程，从而生产力
元件性
测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制，从而产品生命周期
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度
电镀处理的成本小化，产量化
快速简单的分析
同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
多可分析4层（不包括基层）
镀液成份分析
珠宝及其他合金的快速分析
贵金属合金分析
黄金纯度分析
材料鉴定
