日本三丰Mitutoyo粗糙度代理SV-C3200 SV-C4500、525系列表面粗糙度轮廓测量仪

Formtracer
表面粗糙度、轮廓形状一体机
Formtracer (表面粗糙度 / 轮廓测量装置) SV-C3200 / SV-C4500

525系列 — 表面粗糙度/轮廓测量仪

特点
? 大幅的驱动速度 (X1轴: 80 mm/s, Z2
轴立柱: 30mm/s) 进一步减少了总的测量
时间。
? 为了长时间保持横往返直线度规格，三
丰公司采用坚硬的陶瓷导轨，既老
化又经久。
? 驱动器 (X1轴) 和立柱 (Z2轴) 均配备了高
线形编码器 (其中Z2轴上为ABS型)。
因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、
对较难定位部件的重复测量的重复
得以。

自动测量
? 在与CNC机型配套使用的众多外设选件
的支持下，可实现自动测量
? 当结合使用新产品双面锥型测针 (向上和
向下方向上有接触点),SV-C4500系列的轮
廓驱动单元通过与上下圆锥测针的组合，
实现了上下两面连续测量的功能从而不
需要改变测臂方向就能对工件进行复位.

轮廓测量技术参数:
X1轴
测量范围:
100mm 或 200mm
分辨率:
0.05μm
长度基准:
反射型线性编码器
驱动速度:
0 - 80mm/s 外加手动
测量速度:
0.02 - 5mm/s
移动方向:
向前／向后
直线度:
0.8μm / 100mm, 2μm / 200mm
*以X1轴为水平方向上
直线位移:
±(1+0.01L)μm (SV-C3200S4, H4, W4)
(20oC时)
±(0.8+0.01L)μm (SV-C4500S4, H4, W4)
±(1+0.02L)μm (SV-C3200S8, H8, W8)
±(0.8+0.02L)μm (SV-C4500S8, H8, W8)
* L 为驱动长度 (mm)
倾角范围:
±45o (带有X1轴倾斜单位)
Z2 轴 (立柱)
垂直移动:
300mm 或 500mm
分辨率:
1μm
长度基准:
ABSOLUTE 线性编码器
驱动速度:
0 - 30mm/s 外加手动
Z1 轴 (检出器)
测量范围:
±30mm
分辨率:
0.04μm (SV-C3200),
0.02μm (SV-C4500)
标尺:
线性编码器
(20oC时)
±(1.6+|2H|/100)μm (SV-C3200)
±(0.8+|2H|/100)μm (SV-C4500)
*H: 基于水平位置的测量高度 (mm)
测针上／下运作: 弧形移动
测针方向:
向上/向下 (SV-C3200)
( 上下可连续测量 ) (SV-C4500)
测力:
30mN (SV-C3200)
10, 20, 30, 40, 50mN (SV-C4500)
*如 SV-C4500设置测力
跟踪角度:
向上: 77o, 向下: 83o
(使用配置的标准测头， 依表面粗糙度
而定)
测针针尖
半径 : 25μm, 硬质合金
表面粗糙度测量技术参数:
X1 轴
测量范围:
100mm 或 200mm
分辨率:
0.05μm
长度基准:
线性编码器
驱动速度:
0 - 80mm/s 外加手动
移动方向:
向后
直线度:
(0.05+1L/1000)μm (S4, H4, W4 型)
0.5μm/200mm (S8, H8, W8 型)
Z2 轴 (立柱)
垂直移动:
300mm 或 500mm
分辨率:
1μm
长度基准:
ABSOLUTE 线性编码器
驱动速度:
0 - 30mm/s 外加手动
检出器
范围／分辨率:
800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,
8μm / 0.0001μm (使用测针选件时，
可达2400μm)
测力:
4mN 或 0.75mN (低测力型)
测针针尖:
金刚石, 90o / 5μmR
(60o / 2μmR:低测力型)
类型:
差动电感式