薄膜测厚仪产品用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
薄膜测厚仪产品特点：
1.接触式测量
2.测头自动升降
3.手动、自动双重测量模式
4.数据实时显示、自动统计、打印
5.显示值、小值、平均值和统计偏差
6.标准接触面积、测量压力（非标可选）
7.标准量块标定
薄膜测厚仪技术参数：
1.测量范围：0～2mm（常规）
0～6mm；12mm（可选）
2.分辨率：0.1μm
3.测量速度：10次／min（可调）
4.测量压力：17.5&plun;1kPa（薄膜）；50&plun;1kPa（纸张）
5.接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
薄膜测厚仪标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
薄膜测厚仪依据标准：GB／T 6672、GB／T 451.3、GB／T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
薄膜测厚仪产品特点：
1.接触式测量
2.测头自动升降
3.手动、自动双重测量模式
4.数据实时显示、自动统计、打印
5.显示值、小值、平均值和统计偏差
6.标准接触面积、测量压力（非标可选）
7.标准量块标定
薄膜测厚仪技术参数：
1.测量范围：0～2mm（常规）
0～6mm；12mm（可选）
2.分辨率：0.1μm
3.测量速度：10次／min（可调）
4.测量压力：17.5&plun;1kPa（薄膜）；50&plun;1kPa（纸张）
5.接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
薄膜测厚仪标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
薄膜测厚仪依据标准：GB／T 6672、GB／T 451.3、GB／T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
