配备真空腔和真空泵，全自动真空控制系统，使真空测试过程更加智能化
镀层厚度测量至0.005微米
分析低含量的轻元素时，使用真空泵设备将空气抽出，使内部在真空状态下进行对轻元素的分析
技术指标
※测量元素：从钠至铀等 75 种元素
※测量对象：粉末、固体、液体
※元素含量分析范围：1ppm-99.99％
※RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd／Pb／Cr／Hg／Br）检出限达1ppm
※测量时间：60-200s
※能量分辨率为：140&plun;5eV（德国产SDD探测器）
※测量：＜0.05％
※管压：5-50kV
※管流：50-1000uA
※温度适应范围：15-30℃
※相对湿度：≤70％
※仪器功率：≤200W
※工作电压：AC 110V／220V
※三维自由样品腔设计，样品腔尺寸Φ320×180mm
※可同时分析24个元素
※重量：75kg
配置
X光管
放大电路
高低压电源
双激光定位系统
对被测样品可以放大100倍
清晰观测检测部位
计算机、喷墨打印机
硅针半导体探测器
高清晰摄像头，的光路增强系统
软件，操作界面十分友好。
镀层厚度测量至0.005微米
分析低含量的轻元素时，使用真空泵设备将空气抽出，使内部在真空状态下进行对轻元素的分析
技术指标
※测量元素：从钠至铀等 75 种元素
※测量对象：粉末、固体、液体
※元素含量分析范围：1ppm-99.99％
※RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd／Pb／Cr／Hg／Br）检出限达1ppm
※测量时间：60-200s
※能量分辨率为：140&plun;5eV（德国产SDD探测器）
※测量：＜0.05％
※管压：5-50kV
※管流：50-1000uA
※温度适应范围：15-30℃
※相对湿度：≤70％
※仪器功率：≤200W
※工作电压：AC 110V／220V
※三维自由样品腔设计，样品腔尺寸Φ320×180mm
※可同时分析24个元素
※重量：75kg
配置
X光管
放大电路
高低压电源
双激光定位系统
对被测样品可以放大100倍
清晰观测检测部位
计算机、喷墨打印机
硅针半导体探测器
高清晰摄像头，的光路增强系统
软件，操作界面十分友好。
