X射线衍射仪可在大气中分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。
X射线发生部 2kw或3kw（CPU控制）
测角仪θ/2θ联动，θ、2θ
扫描范围-6°~163°（2θ），-180°~180°（θ）
数据处理部 windows 2000/XP对应
X射线衍射仪可在大气中分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。
垂直型测角仪
配备高垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
XRD-6000具有本质结构。
只有门连锁机构闭锁时，X射线管才能开启，具备高性。
配备运转（1000°/min）及高角度重现性（&plun;0.0001°）的垂直型测角仪，可进行各种样品的测定。
驱动机构为2轴驱动，可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴驱动，对薄膜测定行之。
备有丰富的附件（软件/硬件）来满足多种需要。
对应工业环境测定标准/工业环境评价标准修订
X射线衍射仪XRD-6000环境测定包
适合工业环境中的游离硅及石棉的定性/定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。
X射线发生部 2kw或3kw（CPU控制）
测角仪θ/2θ联动，θ、2θ
扫描范围-6°~163°（2θ），-180°~180°（θ）
数据处理部 windows 2000/XP对应
X射线衍射仪可在大气中分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。
垂直型测角仪
配备高垂直型测角仪，适用于粉末、薄膜、难于固定的样品、易溶样品等各种样品的测定。
XRD-6000具有本质结构。
只有门连锁机构闭锁时，X射线管才能开启，具备高性。
配备运转（1000°/min）及高角度重现性（&plun;0.0001°）的垂直型测角仪，可进行各种样品的测定。
驱动机构为2轴驱动，可选择θ-2θ联动或θ、2θ轴驱动，对薄膜测定行之。
备有丰富的附件（软件/硬件）来满足多种需要。
对应工业环境测定标准/工业环境评价标准修订
X射线衍射仪XRD-6000环境测定包
适合工业环境中的游离硅及石棉的定性/定量分析。
