产品介绍
实验内容及相关科目：
可观察细丝、单缝、双缝、多缝、
小孔的衍射现象，测量其光强分布。
验证波长、缝宽与光强分布的关系
光栅公式、海森堡测不准原理。
仪器特点：
以半导体激光器作为光源，光功率指示计和精密位移机构测量光强发布，较读数显微镜更加客观、准确。
光探头：含12档光栏盘，通光孔径分别为圆孔和狭缝。
圆孔直径为0.5 1.0 2.0 3.0 4.0 6.0 mm；缝宽0.2 0.3 0.4 0.8 1.2mm.
缝元件：含细丝、单缝、双缝、多缝、光栅等多种结构。
大一维位移架：横向移动度为0.02mm，移动范围≥100mm.
设备成套性：
光学实验导轨（1200mm）、半导体激光器、小一维＋缝元件、激光功率指示计、一维位移架＋十二档光探头等。
技术指标
光学实验导轨1200mm.
半导体激光器650nm，4Mw，。
激光功率指示计：三位半数字表头，量程：200μW，2mW，20mW，200mW，可调档。小分辨率0.1u W.
一维可调导轨滑块：可调范围：10mm.
大一维位移架＋12档光探头：位移范围100mm，0.02mm，光栏直径：0.5、1、2、3、4、6mm.光栏宽度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm.
实验内容及相关科目：
可观察细丝、单缝、双缝、多缝、
小孔的衍射现象，测量其光强分布。
验证波长、缝宽与光强分布的关系
光栅公式、海森堡测不准原理。
仪器特点：
以半导体激光器作为光源，光功率指示计和精密位移机构测量光强发布，较读数显微镜更加客观、准确。
光探头：含12档光栏盘，通光孔径分别为圆孔和狭缝。
圆孔直径为0.5 1.0 2.0 3.0 4.0 6.0 mm；缝宽0.2 0.3 0.4 0.8 1.2mm.
缝元件：含细丝、单缝、双缝、多缝、光栅等多种结构。
大一维位移架：横向移动度为0.02mm，移动范围≥100mm.
设备成套性：
光学实验导轨（1200mm）、半导体激光器、小一维＋缝元件、激光功率指示计、一维位移架＋十二档光探头等。
技术指标
光学实验导轨1200mm.
半导体激光器650nm，4Mw，。
激光功率指示计：三位半数字表头，量程：200μW，2mW，20mW，200mW，可调档。小分辨率0.1u W.
一维可调导轨滑块：可调范围：10mm.
大一维位移架＋12档光探头：位移范围100mm，0.02mm，光栏直径：0.5、1、2、3、4、6mm.光栏宽度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm.
