类型LCR测量仪品牌 WAYNE KERR
型号 WK－4235/4236/4237测量范围 0.01欧－欧
测量准确度 0.1（%）测量频率 20-1M（Hz）
测量速度 30ms
产品特点说明：
。0.1%基本度
。测试频率可达1MHz
。直觉式人性化操作介面
。令您无法拒的价格
。提供完整的测试功能
。RS-232，GPIB，及Bin Handler 介面
。外型精巧，携带方便
型号 WK－4235/4236/4237测量范围 0.01欧－欧
测量准确度 0.1（%）测量频率 20-1M（Hz）
测量速度 30ms
产品特点说明：
。0.1%基本度
。测试频率可达1MHz
。直觉式人性化操作介面
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。提供完整的测试功能
。RS-232，GPIB，及Bin Handler 介面
。外型精巧，携带方便
其他说明
| 量测功能 | ||
| 量测参数 | ||
|
|Z|, |Y|,Θ ,R,X,G,B,L,C,Q,D,R,DCR 等效电路模式:串联/并联 |
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| Mathematical Functions | absolute and percent deviation | |
| 量测信号 | ||
| 频率范号 | ||
| 4235 | 20Hz ~ 200KHz | |
| 4236 | 20Hz ~ 500KHz | |
| 4237 | 20Hz ~ 1MHz | |
| 频率微调解析度 | 5 Dis | |
| 频率输出精准度 | &plun; 0.01% | |
| 输出阻 | 100Ω | |
| AC 信号位元准 | 10mV to 2V rms (1m Vrms 解析度) | |
| 精准度 | &plun; 2.5% | |
| 量测范围 | ||
| |Z| R X | 0.1 mΩ ~ 100MΩ | |
| |Y| G B | 10nS ~ 1000S | |
| C | 0.1pF ~ 1F | |
| L | 0.1nH ~ 100KH | |
| D | 0.00001 ~ 9.9999 | |
| Q | 0.1 ~ 9999.9 | |
| Θ | -180° ~ +180° | |
| DCR | 0.1mΩ ~ 100MΩ | |
| Δ % | -999.99% ~ 999.99% | |
| 基本度 | ||
| &plun; 0.1% |Z|, R, X, |Y|, G, B, C, L | ||
| 量测速度 | ||
| DC | AC | |
| Max: | 30mS | 75mS |
| Fast: | 60mS | 150mS |
| Medium: | 120mS | 450mS |
| Slow: | 500mS | 600mS |
| LCD 显示器 | ||
| 320*240 dot-matrix display | ||
| 偏差校正功能 | ||
| Zero OPEN / SHORT | 避免夹具或治具上的杂乱电阻引起误差 | |
| 比较器 | ||
| 依主参数或次参数设定上下限 | ||
| 其他功能 | ||
| 设定资料存档 | 内建式记忆体, 可储存64组Multi-step设定 | |
| 断电自动存档 | 当关闭电源或断电时, 设定资料将自动存档且于下次开机时回复. | |
| 介面 | Handler, GBIP and RS-232 | |
| 其他规格 | ||
| 使用电源 |
输入电压 90 ~ 132Vac or 198 ~ 264Vac (可切换) 频率 47 ~ 66Hz |
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