LCR模式下快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的测量
基本±0.08%的高测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低R测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。
咨询电话SERVICE LINE
86-769-85383087
86-13712966534

扫一扫
进入手机店铺