主要技术参数:
光源波长:1300 nm
光源功率:5mW
样品面光功率:1-2mW
纵向分辨率:20um
横向分辨率:20um
扫描深度:3mm
成像速度:1-2f/s
工作距离:50-70mm
台近红外光珍珠珠层成像仪(发明号:2006100575466)。利用低功率近红外光对珍珠成像,照射到样品的光功率1-2mW,波长为1.3微米,无放射性,对检测工作者和珍珠样品伤,检测实验室无需放射性屏蔽,不会对工作人员产生潜在的X线放射性危害;与传统的X线前向成像相比,本产品采用了的非接触式背向散射成像技术实现了单珠检测,使用于半成品、成品珍珠饰的测量成为可能;直观的珍珠珠层图像,准确测量珍珠珠层厚度,分辨率可达0.03毫米;仪器小型化,安装、使用方便,可在生产工厂、检测机构、分销单位、售单位等场所直接使用;成像检测速度快,每个样品用1-2秒,可选配分选器,适用于珍珠养殖、生产过程中的分级、筛选。