ED400型涡流测厚仪

产品概述：
1.ED40型涡流测厚仪是ED30型测厚仪的改进型，仪器性能显著。
2. ED40型涡流测厚仪适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
3. ED40型涡流测厚仪适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
4. ED40型涡流测厚仪合标准GB/T4957-203 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
5.  天星ED40型涡流测厚仪自1993年开始生产以来，伴随着我国铝加工行业的成长，其自身也在不断改进和，目前，已生产了ED20型、ED30型和ED40型三代产品， ED40型涡流测厚仪是新一代产品，其产品质量和测试国外仪器水平，其耐用性突出，过国内外仪器。天星测厚仪以良好的质量，及时、优质、低费用的售后服务得到用户的广泛赞誉和，天星测厚仪在铝型材行业的过90%，成为该行业的产品。
仪器特点：
      ED40型涡流测厚仪与ED30型相比，具有如下特点：
＊量程宽   ED40型涡流测厚仪量程0～50μm。
＊高   测量2%。
＊分辨率高   分辨率0.1μm。
＊校正简便   只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内设计。
＊基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2μm。
＊性   采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器性。
＊稳定性   采用的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正可在生产现场长期使用。
＊探头芯寿命长   采用度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。
＊探头可互换   外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。
技术参数：测量范围：     0～50μm
测量：     0～50μm：±1μm；
                   50～50μm：±2%
分 辨 率：      0～50μm：0.1μm；
                   50～50μm：1μm；
                   0～50μm：1μm（可选）
使用温度：     5～45℃
外形尺寸：     150m×80m×30m
重      量：     280g
标准配置
主机            
探头            
基体（6063铝合金）
校正箔片   一套4片（附检测）
仪器箱  可选附件
备用探头
基体
校正箔片（附检测）