Ux-800P二次靶

　　产品名称：二次靶
　　产品型号：Ux-800P
　　产品介绍：
　　采用三维立体光路，实现划时代的，针对元素的检测，性、干扰性、、检出限，有了性的，了产品性能。
　　1）技术：
　　1、二次靶技术：
　　二次靶技术：如图所示：图1a是从X光管出射的原级X射线。图1b是使用滤光片的出射谱。图1c为二次靶出射谱，很明显二次靶技术使散射背景很弱，而弱的散射背景使得样品出射谱的散射背景强度很低。
　　2、空间三维立体光路：根据偏振光的特性安排的空间立体光路。我们让原级X射线以45°入射角入射到二次靶上，二次靶上出射的散射（反射）线再以45°角入射到样品。这样的空间三维立体光路起到一个除去二次靶材散射背景的作用，使散射背景大大降低。
　　3、Ux-800P应用了精心设计的滤光片，基本做到单色激发。
　　4、高管压X光管，结合偏振二次靶的作用，使Cd、Sb、Ba等元素的检出限大大降低。
　　谱图对比：图2和图3分别为传统EDXRF仪器和Ux-800P测塑胶样品的谱图的对比。从图2图3中不难看出，与传统的EDXRF Ux-220相比，Ux-800P的散射背景明显降低，各个待测有害元素特征峰的峰背比都有了显著的，尤其以Cd和Cr为明显。
　　图2.传统EDXRF检测欧盟PE标样谱图
　　图3.偏振二次靶Ux-800P检测欧盟标样谱图

　　P3：解决产业六大难题：
　　1、解决高溴中的Pb、Hg检测，检测均下限低于20ppm，从图4可以看出，即使20ppm的Pb，也能稳定的检测出来，并且线性相当不错。
　　图4.Ux-800P含检测10%Br的PE样品
　　2、解决锡中的Cd检测，检测下限低于20ppm，图5是焊锡中200ppm以下Cd的检测，使用传统的EDXRF几乎是不可能的，但采用Ux-800P，可以对焊锡中的20ppm的Cd进行稳定的检测，可以满足RoHS要求。
　　图5.是焊锡中200ppm以下Cd的检测
　　3、能对含Pb同时含As的样品进行准确检测，如图6 Ux-800P经过合适的配置，可以准确地检测As的含量，进而可以准确计算Pb的含量。
　　图6.Ux-800P检测含Pb同时含As的样品
　　4、应对玩具指令中的八大属进行高检测，检测下限均10ppm（如图7）
　　图7.Ux-800P测试玩具八大属谱图
　　5、能对含有高含量Bi样品中的Pb进行准确检测；
　　6、能对含有很高的Ti的样品中的Cl进行准确检测；
　　以上几种是目前传统XRF仪器无法解决的难题，Ux-800P彻底解决了。而UX-800P功能远不止这些，它能广泛地应对各种指令包括RoHS、EN71、ASTM-F963、Reach等等。
　　●售后服务
　　由的技术人员提供、系统的培训，直至客户熟练掌握操作方法及技巧，我司出售的仪器提供维修服务