托普科AOI自动光学检测仪（TOP V8, TOP M8）

　　TOP M8，TOP V8
　　该仪器是利用光学方法，采用权值成像数据分析原理，用来检测SMT工艺中的锡膏缺陷、件缺陷和焊点缺陷。
　　AOI的实施目标：
　　终品质：通常置于SMT生产线的末端，用为检查SMT之的的产品缺陷；
　　过程控制：分别置于印刷机、贴片机之后，用来检查SMT工序缺陷并反馈数据。
　　
　　产品特点：
　　1.采用的权值万像数据差异分析原理；
　　2.的丰富的标准模型库，使编程更快捷；
　　3.友好的人机界面设计，使操作简洁方便；
　　4.高分辨率彩色CCD系统配以第二代LED光源，大大降低误断率；
　　5.自动PCB夹具设计使得测试更加稳定；
　　6.性能卓，价格便宜，具有高的性价比；
　　7.件，电控箱免维护设计；
　　8.测试速度快捷，每秒测试100个件以上；
　　9.TOP V8广泛适用于各类PCB组件的AOI自动光学检测，小测试元件0402；
　　10.TOP M8尤其适用于手机、笔记本等高端产品的AOI自动光学检测，小测试元件0201；
　　11.TOP L8适合SMT在线检测。
　　
　　技术参数：
　　
　　视觉识别系统
　　u 判别方法：权值成像数据差异分析、彩色成像比对原理
　　u 摄相机：采用CCD彩色摄相机，分辨率达：15微米／点
　　u 光源：采用RGB环形LED结构光源
　　u 图像处理速度：处理0402元件少于15毫秒，每画面处理时间少于185毫秒
　　u 检测内容：锡膏缺陷，包括有无、偏斜、少锡、多锡、断路、短路、污染等；件缺陷，包括缺件、偏移、歪斜、立碑、侧立、翻件、性反、错件、破损等；焊点缺陷，包括少锡、多锡、连锡等。

　　软件系统
　　u 操作系统：标准为MS Windows 2000 server，同时支持MS Windows 2003 server、MS Windows XP
　　u 图形识别控制系统：采用统计外形建模，自动建立标准图像、识别数据及误差阀值、OK样品学习；采用图像化编程，自带标准元件库，能根据元件形状选择标准自动生成检测框，自动定位，CAD自动导入，编程快捷
　　u MARK点识别：系统可选用2-4个常用MARK点，MARK点识别速度在0.6秒以内
　　机械系统
　　u PCB尺寸：25mm／25mm-430mm／320mm
　　u PCB厚度：0.5mm-2.5mm
　　u PCB翘曲度：＜2mm（有夹具辅助矫正变形）
　　u 件高度：＜25mm
　　u 小识别件：0201元件
　　u X、Y平台：采用交流电机伺服系统，定位在25微米以内，移动速度快700mm／sec
　　控制系统
　　u 采用工控电脑，P4双核2.0G或以上配置
　　u 采用19＂液晶宽频显示器
　　设备参数
　　u 外形尺寸：宽850mm／深920mm／高1270mm
　　u 重量：约350Kg
　　u 电源：交流220V±10％，额定功率600W，自带UPS。