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植物叶面积指数分析测定仪STEG-002
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植物叶面积指数分析测定仪STEG-002

产品价格:
电议
产品型号:
STEG-002
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
上海鑫态国际贸易有限公司
所属地区:
上海市
发布时间:
2014/2/10 9:36:45

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林先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

上海鑫态国际贸易有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

所在地:上海市

主营产品:制造加工机械,冶金矿产和能源

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  价格:108000元型号:STEG-002(美国技术)
  
  STEG-002便携式植物冠层分析仪是上海鑫态公司新推出的测量植物冠层图像参数的生理生态仪器。本冠层图像分析仪性能卓越、携带轻便、测量快速、操作方便,能满足您不同工作环境的多种需求。广泛应用于农艺、植物、林业等生理生态方面研究,提供了关于影响田间作物生长(小麦,水稻,冠丛及林地等)的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)和植物光合辐射(PAR)等。
  
  产品用途:
  ?测算功能:①LAI植物叶面积指数;②DIFN植物冠层的太阳直射光透过率;③天空散射光透过率;
  ④MTA叶片平均倾斜角;⑤冠层的消光系数等
  ?应用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析
  ?应用于不同植物群体结构的比较
  ?应用于农田作物群体生长过程进行动态监测
  ?应用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学
  ?应用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学
  
  分析原理:
  STEG-002便携式植物冠层分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,测算出植物冠层结构参数。该方法是各类方法中和省力、省时、快捷方便的方法。
  
  技术指标:
  
  ?分析范围:0~2000μmol/m2?s
  ?品牌:上海SINTEK(美国技术)
  ?光合辐射PAR分析范围:400~700nm
  ?测算参数项目:①LAI植物叶面积指数;②DIFN植物冠层的太阳直射光透过率;③天空散射光透过率;
  ④MTA叶片平均倾斜角;⑤冠层的消光系数
  ?镜头角度:主机STEG-002的鱼眼镜头角度为宜适的150°(180°鱼眼镜头经常不适合
  孔隙率测量原理与方法所假设的前提条件,用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)
  ?分辨率:765×490pix
  ?测量范围:天顶角范围 0°~75°(150°鱼眼镜头)可分割十个区域。
  方位角 360°同样可分割成十个区域。
  ?内存:128兆以上
  ?重量:1.5KG
  ?传输接口:U
  ?显示屏:利用PC机LCD数字式显示测量结果
  ?操作温度:-20~50℃
  ?操作湿度:0-95%
  ?标准配置:便携式植物冠层摄相主机STEG-002(1no),光合辐射PAR测量杆(1no),SINTEK通讯软件,数据线(1no),便携背带(1no),操作说明书(1no),装箱单(1no),合格证(1no)。
  ?环境要求:工作温度-10-35℃,工作湿度10-85% 

联系方式

上海鑫态国际贸易有限公司

联系人:
林先生
手机:
86-13331858882
传真:
86-21-62740973
所在地:
上海市
类型:
工厂
地址:
中国上海市长寿路181号长寿商业广场2-2103室

服务热线

86-21-52522103

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