比表面及孔隙率总孔体积分析仪（V-SORB2800）

　　比表面及孔隙率总孔体积分析仪V-Sorb 2800是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器，采用静态容量法测量原理，众多科研院所及企业应用，相比国内同类产品，多项技术的采用使产品整体性能更加完善，测试结果的准确性和一致性进一步，测试过程的稳定性更强，国际同类产品水平，部分功能国外产品。
　　
　　金埃谱科技是国内早参与比表面积标准物质标定的机构，测试结果与国外数据可比性平行性，并获取上海计量院检测证书，同时金埃谱科技也是国内同行业中一家注册资本的生产企业，让您选购的产品无后顾之忧！
　　
　　全自动静态容量法比表面及孔隙率总孔体积分析仪性能参数
　　
　　测试方法及功能：氮吸附真空容量法（真空静态法），吸附及脱附等温线测定，BJH总孔体积及孔径分布测试孔隙率分析，样品真密度测定，t-plot图法微孔分析，MP法微孔分析，HK法微孔分析，BET法比表面积测定（单点及多点），Langmuir法比表面积测定，平均粒径估算，t−plot图法外比表面积测定；
　　
　　测定范围：0.01（㎡／g）--至无上限（比表面积），0.35nm-400nm（孔径）；
　　
　　测量：重复性误差小于1.5％；
　　
　　真空系统：V-Sorb的集装式管路及电磁阀控制系统，大大减小管路体积空间，检测吸附气体微量变化的灵敏度，从而孔径分布测定孔隙率分析的分辨率；同时集装式管路减少了连接点，大大密封性和仪器使用寿命；
　　
　　液位控制：V-Sorb的液氮面控制系统，测试液氮面相对样品管位置保持不变，因体积变化引入的测量误差；
　　控制系统：采用可编程控制器电磁阀控制系统，高集成度和干扰能力，仪器稳定性和使用寿命；
　　
　　样品数量：同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理；
　　
　　压力测量：采用压力分段测量的双压力传感器，显著低 P／Po点下测试，0-1000 Torr（0-133Kpa），0-10 Torr（0-1.33Kpa）（可选）
　　
　　压力：硅薄膜压力传感器，达实际读数的0.15％，全量程的0.15％，远高于皮拉尼电阻真空计（一般误差为10％-15％）；
　　
　　分压范围：P／Po 准确可控范围达5x10−6−0.995；
　　
　　限真空：4x10−2Pa（3x10−4Torr）；
　　
　　样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等；
　　
　　测试气体：高纯N2气（99.999％）或其它（按需选择如Ar，Kr）；
　　
　　数据采集：高及高集成度数据采集模块，误差小，干扰能力强；
　　
　　数据处理：Windows兼容数据处理软件，功能完善，操作简单，多种模式数据分析，图形化数据分析结果报表。