JD36-H 高测长仪
一、仪器特点：
1、基座选用优质铸铁，经长期自然时效处理，刚，稳定性好；
2、测量主轴采用优化方形设计，测量时运动性能的稳定性；
3、采用了光栅测量系统，高，稳定；
4、利用阿贝比较原理和采用了高的光栅测量系统，具有较高的测量；
5、具有顶针架、测钩、测帽等多种大的附件配置，能满足各种测量要求。
6、工作台可多方向运动、旋转和偏摆，可方便不同形状件的检测；
7、光栅照明系统采用低电压、小电流、体积小、寿命长的红外发光器件做光源；
二、仪器用途：
高数据处理测长仪是一种精密机械、光学系统和电气部分相结合起来的长度计量仪器。本仪器除可用于对件外形尺寸进行直接测量和比较测量之外，还可以使用仪器所附有的设备进行各种测量工作。
其主要测量对象包括：
光滑圆柱形件（轴、孔、塞规、环规等）
内螺纹、外螺纹、螺纹塞规、螺纹环规的中径。
带平行平面的件（卡规、量棒、较低等级的量块）
三、仪器规格参数：
1、测量范围（㎜）：
外尺寸：测量 0～100mm 相对测量 0～770mm
内尺寸：使用小测钩（伸入深度12，臂厚50）时，10～480mm
使用大测钩（伸入深度50，臂厚85）时，30～450mm
使用电测测钩： 1～60mm
使用测钩： 14～112mm
内螺纹中径测量：使用大测钩时（螺纹小径13～30㎜）
使用大测钩时（螺纹小径31～（70—臂厚）×2）
螺距：0.5～6㎜
外螺纹中径测量：200㎜,螺距1～6㎜
2、测量力(N)：0、1.5、2.5
3、数字显示当量：0.0001mm
4、仪器示值变动性：外尺寸测量时,2σ≤0.3μm
内尺寸测量时, 2σ≤0.5μm
5、仪器准确度：外尺寸测量时,仪器准确度为：0.2μm
内尺寸测量时,仪器准确度为：0.6μm
6、工作台：
安装面积： 160×<160mm>2
高度调节范围（㎜）： 0～100mm
横向行程： 25 mm
绕Y轴倾斜： &plun;3°
工作台转动： &plun;4°
允许荷重： 10㎏
7、测帽内径配合尺寸：φ6H7
8、测帽杆与测帽内径配合的外径尺寸：φ<6g>6
9、仪器外形尺寸（㎜）：长×宽×高=1060×390×450mm
10、仪器重量：主机：170Kg
11、仪器使用环境：室温20℃&plun;0.5℃，相对湿度不应过60%
四．主要附件测量用途：
1、测沟及附件：可用于外径千分尺的测量
（1）4mm球型测头
（2）12mm球型测头
（3）100mm球型测头
2、倾斜固定支架：用于外径千分尺的测量
3、顶针架：用于支撑有中心孔的被测件；
4、弹性测沟：用于内尺寸的测量；
5、双V型支架：用于测量棒和内径千分尺的测量；
6、单V型支架：用于测量棒和内径千分尺的测量；
7、测帽：用于测量被测件的外尺寸；
8、浮动工作台：用于球体、螺纹和环规的测量时使用；
