Ux-720 镀层厚度检测仪 华唯
配置型号 | 探测器 | X光管 | 高压电源 |
Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123() | 上海科颐维（国产） | 咸阳威思曼(国产) |
Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123() | 上海科颐维（国产） | spellman() |
Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123() | 上海科颐维（国产） | spellman() |
产品介绍：
Ux-720新一代国产镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量和测量结果业界。
采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。
X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，了大批量生产电镀产品的检验条件，、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的有了检验的保障。
Ux-720镀层测厚仪采用了华唯新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。
样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于效率。
设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射高于国标GBZ115-2002要求。
软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和登陆，测试的记录同时自动添加测试人的登录名称。
产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：145eV
高压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：U2.0模式
准直器：?1mm，?2mm，?4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
样品腔：330×360×100mm
标准配件
样品固定支架1支
窗口支撑薄膜：100张
保险管：3支
计算机主机：品牌+双核
显示屏：19吋液晶
打印机：喷墨打印机
可选配件
可升级为SDD探测器
可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试自动弹出，供应商信息自动筛选和保存
