一、概 述 射频导纳式物位控制器
1.系统简介
DE射频导纳物位控制器(以下简称控制器)，是在吸收采用国外同类产品的先进技术及功能的基础上设计生产的物位控制仪表。它由传感探杆、电子测控单元和防护外壳组成，采用三端coce-shieid技术，彻底排除了传感探杆因挂料、温度、压力、介质密度等因素而引起的误动作，提高了产品的可靠性。可广泛应用于冶金、化工、石油、电力、食品、造纸、煤炭、建材、医药等领域的料位、液位的报警和控制，并可与PLC可编程控制器或DCS集散控制系统配套使用，实现生产过程的自动控制和自动检测。
射频导纳式物位控制器 2.工作原理
DE系列射频导纳物位控制器由电子线路和探头两部分组成，电子线路包括高频振荡器、检测电路、输出电路，探头由探测极棒及保护套构成，二者之间以及它们与接地容器之间相互绝缘，由高频振荡器提供稳定的射频电压，传到探测极棒上，当物料触及到探测极棒时，输出不平衡电压，经解调器、放大器处理后，驱动继电器动作。
二、主要技术指标 射频导纳式物位控制器
1.电子单元
（1）电源：交流185-260V AC 2W
直流15V-30V DC 2W
（2）信号输出：继电器触点输出，
触点容量：AC 220V 5A DC 24V 3A
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触点数量：两组常开、常闭触点
（3）环境温度：-40℃～85℃
（4）温度影响：0.1PF/20℃
（5）灵 敏 度：0.3PF
（6）重 复 性：≤+1.6mm
（7）配用安全栅： LB803S
2.外壳
（1）标准铸铝外壳
（2）防爆等级：ExdⅡBT4
（3）防护等级：IP66
（4）外壳尺寸：ODΦ105，IDΦ92，H：150mm
3.探杆材料
316L、四氟乙烯、ABS塑料、陶瓷
4.工作压力及温度
常规型 | 特殊型 | ||
工作压力 | 工作温度 | 工作压力 | 工作温度 |
常压 | -150℃～250℃ | 常压 | ≤800℃ |
2.5MPa | ≤150℃ | 6.4MPa | ≤250℃ |
5.外型尺寸图详细参数：
分离式 一体式 方形堵料开关 圆形堵料开关 射频导纳式物位控制器是利用高频技术，由电子线路产生一个小功率射频信号于探头上,探头作为敏感元件，将来自物位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路；由于这些变化包括电容量和电导量的变化，因而电子线路处理的是容抗和阻抗的综合变化信号；进行处理后改变继电器的输出状态。它是在原电容测量的基础上改进为射频导纳测量技术，代表了当今物位测量的新水平。 技术参数 电源电压：AC220V±10% 50/60Hz;DC24V |
射频导纳式物位控制器
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