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上市时间：2012年2月
点:结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，同级别中性，分析结果要几秒钟。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。配有各种材料筛选应用的校准包，预装了过800种应用参数/方法。具有的系统性的特点，为日常操作员设定简单的用户界面，而管理员级别可进入系统进行维护，并通过自动锁定功能未授权的操作。改进的功能允许几秒内将结果导出到Excel表格和创建自定义，包括统计数据分析和样品图象。

详细信息

X射线荧光分析仪X-Strata920 是一款率、快速的镀层厚度测量及材料分析设备。

X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了：

• 以更的过程控制来生产力
• 有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
• 快速地分析珠宝及其他合金
• 快速分析多达4层镀层
• 经行业的技术和性，每年都带来收益
• 操作简单，要简单的培训

卓越的性能

• 快速、的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度
• 简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
• 性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
• 卓越的长期稳定性：
  • 自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，稳定的测试结果
  • 例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行要的修正

• 坚固耐用的设计

  • 可在实验室或生产线上操作
  • 坚固的工业设计

电子行业

电子、电气原件
控制生产过程，生产力

• 元件性
  • 同时测量焊料合金成份和镀层厚度
• 优化质量控制，产品生命期
  例如：
  • 分析导电性镀层金和钯的厚度
  • 测量电脑硬盘上的NiP层厚度

五金电镀行业

电镀处理的成本小化，产量化

• 快速简单的分析
  • 同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
  • 多可分析4层镀层
  • 镀液成份分析

金属合金行业

金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速分析

• 贵金属合金分析
• 黄金纯度分析
• 材料鉴定

三种配置选项