- 产品品牌：
- HLEO
- 产品型号：
- YVM-1575T
- 解析力标准：
- 0.001MM
- 线性：
- （3+L/200)um
- 重现性：
- ±0.002 mm
- 放大倍数：
- 20X-220X
- 台面荷重：
- 30kg
- X行程：
- 150(X)X75(Y)X150(Z)
- 台面大小：
- 420 mm×250 mm
- ：
- U= ±( 3+L/200 )μm
- 外形尺寸：
- 550*500*680mm
- 机台重量：
- 140 kg
- 外形尺寸：
- 550*500*680mm
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型号：YVM-1575T 测量范围：150(X)X75(Y)X150(Z)mm ： 线性：(3+L/200)um 重复：3um 小显示位数：0.001mm 系统小解析度：0.0001 量测方式： １、影像式＋探针式 ２、进口高清晰度彩色摄像机 ３、台湾制0.7-4.5Zoom变焦镜头 倍率变化：20X-220X ４、瑞士TESA测头：￠2、￠3mm ５、工作距离范围：115mm(影像) ６、世界电脑：DELL/PC机/17”纯平电脑 量测软体：YR-3T 工作温度：20±1℃ 操作温度：13-35℃ 是否符合电磁兼容实验：OK 机台重量：140Kg 外观尺寸：550*500*680mm 工作电压：220V |
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测头： 单一方向重复：≤0.75um 测头压力调整：0.1-0.3N 螺牙:M2-M3 长度： 测针廷长杆材料:不锈钢或是钨钢 |
