- 产品品牌：
- 环试通试验
设备用途：
该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。 产品结构：
1、 箱体外壁材料：外表面钢板喷塑。 2、 箱体内壁材料：SUS304不锈钢板。 3、 整个箱体分为上、中、下三个区分别为高温区、测试区、低温区冲击试验时自动打开高温区与低温区的风阀从而达到高温与低温的冲击试验。 4、 保温材料：硬质聚氨酯.超细玻璃棉 5、 样品架承重：大于30公斤。 6、 本系统符合冷热循环之可靠性试验规格 7、 测试样品置于样品架，高气动系统驱动蓄热区或蓄冷区之阀门，引导气流循环，以达到冷热测试的温度均匀性 8、 采用特殊设计，节省空间且易操作，易维护 9、 测试区内附上下可调不锈钢盘两组 10、机台底部加装高承载滑轮，以便移动设备：
11、可耐寒耐热之高张性双层密封条 设备符合标准：
本产品满足IEC68-2-14试验方法_温度变化、GB/T2423.13-2002、GJB150.3-86、GJB150.4-86、GJB150.5-86
温度冲击试验标准，并等效满足相应的国标、军标，并符合CNS、MIL、IEC等标准。
