- 产品品牌：
- 德国fischer
- 产品型号：
- XDL
- 测量范围：
- 1MM
X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪.适合无损测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板.其比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高测量.为了使每次测量都能在优的条件下进行,仪器配备了可电动调整的多个准值器及基本滤片.无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量.并且有着良好的长期稳定性,不用经常佼准仪器,可节省时间。
X射线测厚仪只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
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