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日本日置C测试仪3504-60
3504-60,LCR测试仪,数字电桥,频率测试仪,电容测试仪
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。
按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本确度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～1.45mF 量程 (测量频率120Hz)
CV 500mV: ～170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～1.45mF 量程 (测量频率120Hz)
CV 1V: ～70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～700μF 量程 (测量频率120Hz)
输出电阻 5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示 发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间 典型值: 2.0 ms （1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 110VA
体积及重量 260×100×220mm, 3.8kg
附件 电源线×1，预备电源保险丝×1，接地适配器×1
(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头) |
广州宇测电子科技有限公司
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