X荧光光谱仪、X荧光分析仪、光谱仪

一、仪器基本特点
1、探测器采用美国航天技术的半导体探测器，能量分辨率优于149ev；
2、真空测量，限度的提高测量元素的检测限，有利于卤素测量；
3、自动调整光管功率，对激发轻元素和中重元素都有良好的激发效果；
4、圆形品仓设计，适应于各种样品的检测，可以测量国体、液体、粉末；
5、开放式工作曲线标定平台,可量身定做的有害物质检测和控制方案；
6、采用国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。
7、采用模式识别及数据库技术，实现仪器分析智能化；
8、配置滤光片装置大幅提高峰背比；
9、校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
10、可根据用户要求自行定制测试输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求。
11、可以在ROHS分析软件上开展不锈钢、合金、贵金属及全元素分析。
12、一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；
13、适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）检测；
14、双重射线保护（软件、硬件），确保操作人员辐射安全，获四川环保局安全豁免管理。
二、主要技术指标
1、分析元素范围：Mg-U；
2、元素含量分析范围：1ppm -99.9%；
3、采用美国进口的Si (PIN)半导体探测器计数，能量分辨率优于140eV；
4、测量范围：1－30KeV；
5、重复性： >65% >97%(N为计数率)；
6、正高压：5kV-50kV；管流：1μA-500μA；
7、真空泵额定功率：550W；
8、仪器额定功率：50W；
9、整机能量分辨率：145eV；
10、检测时间：120S～600S（时间随样品而调整）；
11、10秒钟真空度可达10-2Pa ，高真空区域10-1-10-5Pa；
12、检出限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20ppm；
13、仪器重量：40Kg；
14、仪器尺寸：700（W）* 400（D）*430（H）mm；

温州多勒工业设备有限公司经销和代理各类进口工业产品，代理产品可广泛应用于印刷、造纸、皮革、包装、纺织、冶金、橡胶等行业。