- 产品型号:
- XLE-3
·产品介绍 XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路,晶体的质量检测而设计开发制造的。
正置式,三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连续彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印、照片或连接数码相机,照相机直接拍照,还可以直接进行图像记录,并建立技术检测档案,存储,查询,可省去复杂烦琐的摄影,洗印等暗室工作,大大的提高了工作效率。
·产品特点 1、放大倍数:40倍至500倍;
2、超大型载物台,可作大范围的纵横方向快、慢速移动,扩大检测领域的使用范围。
3、可以与OVM-TM软件搭配使用。
·技术参数 1、机械筒长160mm。 2、物镜
放大倍数 | 数值孔径 | 工作距离 | 介质 | 使用范围 | 配置 |
4× | 0.10 | 17.912 | 空气 | 明场 | 1 |
10× | 0.25 | 6.544 | 空气 | 明场 | 1 |
PC20× | 0.40 | 1.05 | 空气 | 明场 | 1 |
PC40× | 0.65 | 0.736 | 空气 | 明场 | 1 |
放大倍数 | 焦距 | 视场直径 | 备注 |
10× | 25 | 18 | - |
12.5× | 25 | 14 | 选配 |