- 产品品牌：
- 凯智通
- 产品型号：
- BGA
◆产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）； ◆产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，把频率衰减降到，减少误测； ◆有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高自适应弹簧保证每个IC平衡下压； ◆采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命； ◆采用台湾厂家生产的内存颗粒测试专用PCB，金手指、IC焊盘镀金层是普通PCB的5倍，保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命； ◆采用带定位孔内存颗粒测试专用PCB，探针板与PCB孔定位，保证探针与PCB定位，如有损坏用户可自行更换维修，简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间； ◆采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，DDR3系列频率可达2000MHZ； ◆探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便维护，为生产争取宝贵时间； ◆高合金IC定位框，保证IC定位，取放IC方便，从而提高测试效率； ◆测试寿命长，有效测试10万次以上；（视使用环境及相关操作而定） ◆内存颗粒测试治具测试规格：DDR2X8 DDR3X8性可测试8颗内存颗粒； ◆可以定制单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具 ◆可以提供相关的技术支持。 产品服务： ※ 该产品用户可自行维修，本公司按成本价提供相关配件； ※ 保修期内，维修（人为损坏、烧坏除外），如果需换件，只收材料成本费。
