- 产品品牌：
- 凯智通
- 产品型号：
- OV
B、芯片测试夹具(CMOS Sensor /CCD Sensor)：
1、设计，稳定可靠（号：ZL2004100152975；ZL.X；ZL.7； ZL.X； ZL.7； ZL233.4；ZL476.0）。
2、采用防静电材料作。
3、采用全镀硬金进口探针，不易氧化，使用寿命长。探针尖头特殊头形，能刺穿锡球表面的氧化层，保证接触良好。
4、采用浮板结构，对于BGA IC 有球无球都能测试；该结构能有效保护探针不被损坏，延长探针的使用寿命。
5、先进的CNC加工，精密加工的IC定位槽能保证定位准确，对残锡、锡球不均的IC都能精准接触，保证测试。
6、操作方便，测试效率高。
7、小可做到跳距PITCH=0.4mm。
8、IC压板采用摆动结构，下压时，IC不 会移位，保证测试的准确性。
9、探针可随意更换，维修方便，成本低。
10、交货快：快一天内交货。
※ 研发、生产各类IC的Burn-in Socket、Test Socket；
※ 研发、制作各类IC测试治具，如手机、电脑南北桥、Mp3、MP4、DVD、DVB、打印机、通讯超级终端、工控主板、显卡、数码相机、机顶盒等的BGA/QFN IC测试治具。
※ *作各类BGA植球钢网(手机IC、电脑南北桥IC等的BGA植球钢网)，可根据客户要求定做BGA植球台。
※ BGA返修一站式服务：BGA拆板、除胶、植球、测试，贴装；代客烧录IC
中国国家(部分)：
号：ZL2004100152975；ZL.X；ZL.7；ZL.X；ZL .7；ZL233.4；ZL476.0
