CEM华盛昌DT-156涂镀层测厚仪DT156涂层测厚仪

产品信息

超性价比两用测厚仪

DT-156涂镀层测厚仪是CEM华盛昌新推出的一款测厚仪产品。高度和人体工程学设计使此产品广泛适用于各种高厚度要求的测量工作环境。 

此产品在磁性和非磁性物质表面上涂镀层厚度都可以进行测量，在汽车、工业、建筑、机械设备等生产和应用领域都能发挥应用的作用。

DT-156涂镀层测厚仪探头可以在电磁感应和涡流两种原理下工作。在自动模式（AUTO）下，两种原理可视测量的基体自动转换，或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。

DT-156特色

1.可测量涂镀层：任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度；任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度；

2.测量厚度：0~1250um(0~49.21mils)
3.连续和单次测量方式
4.直接工作模式和组工作模式
5.可统计并显示：平均值/值/小值/标准方差/统计数
6.非常方便的进行一点或两点校准
7.可保存400个测量数据（80个原始数据和320个组数据）
8.USB传输数据至计算机分析统计
9.实时删除测量数据和组数据
10.高低限报警
11.低电和错误提示可设置的自动关机功能

12.易操作的菜单设计

内部结构

DT-156结构介绍

1.USB接口
2.带背光源LCD显示屏
3.菜单模式下“确定”；工作模式“进入”
4.菜单模式下“退出、返回”；工作模式“背光键”
5.向上/向左翻/递减键
6.向下/向右翻/递增键
7.电源开关键
8.零校准键
9.测试探头

使用方法

1.工作模式：
1-1.AOTO：探头根据待测物体性质(铁磁性物质或非铁磁性金属)自动转入相应工作模式。如果待测物体是铁镍等磁性金属物质，探头将转入磁感应原理工作模式；如果待测物体时非磁性的金属物质，探头将转入涡流原理工作模式。
1-2.Fe：探头将是磁感应原理工作模式。
1-3.No-Fe：探头将是涡流原理工作模式。
2.直接测量(DIR)：开机默认为此模式。用于快速随意测量。在此模式下，测量数据会临时保存在内存中，可以通过菜单浏览所有已存数据和统计值，但一旦关机、系统掉电或从直接测量模式切换到组工作模式，这些数据将会丢失。此模式下，多可统计80个数据，超出的新读数将替换旧读数并保存更新统计值。
3.组测量(GR01~GR04)：每一组工作模式下，系统可保存多80个数据，5个统计值。关机和掉电，所有保存值不会丢失，并且组与组之间相互独立不受影响，需要删除保存的值，可通过菜单操作进行。当测量数据超出80个，数据测量可以继续进行，但是所有数据将不被保存和统计计算。如有需要，可通过菜单删除组数据。

4.读数浏览：通过“Measurement view”菜单项，浏览当前工作组所有测量读数。
5.测量中的统计数据：厚度统计数据可统计80个读数(GR01~GR04总共多可存储4*80=320个读数)。此外，在DIR模式除了读数不存储外，其他和GRO模式相同。
NO.：开机以来进行统计的读数个数
AVG：平均值
Sdev：标准方差
MAX：读数
MIN：小读数

产品技术指标

DT-156规格参数

测量厚度：0~1250um(0~49.21mils)
：0~50um(0.1um)；50~850um(1um)；850~1250um(0.01mm)
误差：0~850um(±3%+1um)；850~1250um(±5%)
工作原理：磁感应(铁磁性)、涡流(非铁磁性)
测量小曲率半径：1.5mm(铁磁性)、3mm(非铁磁性)
小测量面积：7mm(铁磁性)、5mm(非铁磁性)
可测量基体小厚度：0.5mm(铁磁性)、0.3mm(非铁磁性)
工作环境要求：0~40℃/20%90%RH
单位换算：mil（PCB 或晶片布局的长度单位）：1 mil = 千分之一英寸，1mil = 0.0254mm 
尺寸：113.5*54*27mm
重量：110g