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日本日置C测试仪3506
对应1MHz测试, 低容量,高,高速测试
反复测量更高，适合生产线
校正维修功能，减低由环境的温度变化影响
测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能
比测仪的设定值和测定值的同步显示
2ms的高速测量；1kHz,1MHz 测量
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能
输入用探头/测试夹具，实体不附带。
按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数 C（电容）,D（损耗系数tanδ）, Q (1/tanδ)
测量范围 C:0.00000pF～15.0000mF
D: 0.00001～1.99999
Q:0.0～19999.9
基本确度 （代表值）C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
测量信号电平 500mV, 1V rms
输出电阻 1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外)
显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间 代表值: 2.0 ms （ FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口
电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 40VA
体积及重量 260×100×298mm, 4.8kg
附件 电源线×1, 电源备用保险丝×1 |
广州宇测电子科技有限公司
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