- 企业类型：制造商
- 新旧程度：全新
- 原产地：中国
高精度膜厚检测设备HM-S100半自动
高精度膜厚检测HM-S100半自动设备采用超高精密运动平台驱动其进行在线扫描，非接触式、无损的、且快速的光学膜厚 测量系统可以用于测量各种薄膜厚度、 油墨银浆厚度、LTCC/MLCC湿膜、厚膜 电阻行业膜厚、太阳能行业膜厚、透明 胶水厚度等，专门解决工业膜厚测量的 问题，改善工艺和提高生产效率和质量。
一、产品属性
1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5μm。 3、高速采样，最快周期20μs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。
二、规格参数
外观尺寸(mm) 650*500*350
测量行程 100mm
Z轴可调行程 50mm
有效测量范围 80mm
扫描步距 2um
扫描速度 30mm/s
检测重复精度 ≦0.5um
电源 AC220V±10%
三、其他
