- 产品品牌：
- 青量
- 产品型号：
- 50-75
- 类型：
- 带表千分尺
- 测量范围：
- 50-75mm mm
特性：
适用于批量零件的分选检测。
测砧移动范围：8mm。
硬质合金测量面，喷漆尺架。
微分头分辨率：0.01mm
指示表分辨率：0.01mm
测量范围：50-75mm
分辨率：0.01mm
检验千分尺：
一、测量面的平行度及平面度采用光学平晶进行检验:
光学平面与丝杆测量面或测砧测量面贴合后，由于测量面的不平度，
使平晶与测量面之间存在空隙，从而产生干涉带或干涉环，在测量面的
垂直方向每条干涉带或干涉环所代表的平面度误差为0.3 m.
二、测量面的平行度误差：
测量范围上限至100mm的千分尺两侧量面的平行度采用丝杆螺距的1/3
或1/4的光学平行平晶来进行检验，依次将光学平行平晶防入两测量面间
转动测力装置。施加5-10N的力,使两测量面出现的干涉环或干涉带数目
减少至少.
测量范围大于100mm的千分尺,测量面的平行度可用自准直仪进行检
验.
在距测量边缘0.4mm范围内的平行度忽略不计，
三、测量面的平面度误差：
采用二级光学平晶检验，应调整光学平晶使测量面上干涉带或干涉
环。
测量面不应出现两条以上的相同颜色的干涉环或干涉带（测量量面的
平面度，〈0.6 m）
在距测量面边缘0.4mm范围内的平面度忽略不计。
