日本SII精工X射线荧光元素分析仪SEA6000VX ,分析仪器

概述：

    一台测量范围涵盖了RoHS/ELV分析及其他分析的能量色散型X射线荧光分析仪。配备有独自开发的

    无需液氮的高计数率检测器「Vortex」及全新设计的X射线发生系统，使得检测灵敏度较从前提升了10倍

    以上。因此，也缩短了0.5mm~1.2mm的微小区域的测量时间。通过提升微小区域的测量灵敏度以及配合了

    高速电动平台，实现了二维元素扫描成像的快速化。

主要特点：

  1.快速扫描测量
    通过提升微小区域的测量灵敏度以及配合了高速电动平台，可快速获得二维元素扫描图像。

    特别是强化了对线路板中铅的扫描测量能力，配备了铅扫描专用的滤波器。可扫描检测出

    无铅焊锡中1,000ppm以下的铅。

  2.宽视野高清晰度的光学系统
    可获得250mm×250mm的20μm以下的高清晰度光学影像。从该光学影像可以指定测量位置，

    仪器的操作性得到了飞跃般的提升。此外，该光学影响还能和扫描后获得的影像进行重叠，从

    而实现了高的图像解析。

  3.快速测量微小区域的微量金属
    通过所配备的高密度微小X射线束和高计数率检测器，以及充分考虑到X射线荧光检测效率的设计，

    实现了测量的高灵敏度。可短时间测量微小区域的微量金属或薄膜。仅需100秒左右的时间就可检

    测出1mm×1mm微小区域中的有害物质

  4.无需液氮的高计数率检测器
    标准配备了精工纳米独自研发设计无需液氮的高计数率检测器Vortex。免去了繁琐的液氮补给过程。

    开机时间也仅为短短数分钟，电子冷却系统更是值得信赖。减少了液氮在制造、运输时产生的二氧化

    碳的排放，同时因为高效率的检测速度而减少了电力的消耗，是一款环保型的仪器的因为可以在真空

    环境下测量，所以测量范围扩大为Na～U。（选配）。

  5.连续测量
    从所取得的宽视野样品观察画面到样品台上的样品可多记录500个样品位置，可对不同测量条件的

    样品进行连续 测量。

  6.微小区域的镀层厚度测量
    只需10秒左右的时间，便可对0.2mm×0.2mm大小的Au/Ni/Cu（金/镍/铜）等薄膜多层镀层的镀层厚度

    进行高 测量。同时也可以对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析测量。

产品规格：