日本KETT370膜厚仪

名称

LE-370

LH-370

LZ-370

测定方式

电磁式

高频涡流式

电磁/高频涡流两用式

测定对象

磁性金属基体上的非磁性涂镀层

非磁性金属基体上的绝缘层

磁性金属基体上的非磁性涂镀层/非磁性金属基体上的绝缘层

测定范围

0~2500um

0~1200um

电磁式0~2500um 涡流式0~1200um

测定

<50um±1um  50um以下,1000um以下±2%  1000um以上±3%

分辩率

100um以下：0.1um     100um以上：1um

记忆数据

大约3000个

附加功能

1．程序选择 2.基体修正 3.数据删除  4.数据记忆  5.设定上下限 6.数据统计（测定次数 值 小值 标准偏差）7.语言选择（中、英、日、韩）8.日期时间 9.自动关机设定 10.背景灯光选择 11.背景灯光的时间设定 12.单位 13.数据输出

测  头

点触式（LEP-J）

点触式（LHP-J）

点触式（LEP-J  LHP-J）

显示方式

数字LCD显示（背光灯可自行选择开关）

数据输出

电脑输出（USB或者RS-232C）或者连接打印机（RS-232C）

电  源

4节1.5V碱性电池

存储通道

有100通道可供选择

各有50通道

尺寸重量

75（W）×145（D）×31（H）mm   0.34kg

标准标配

基体  标准片  4节碱性电池  测头  皮套

可选配置

数据管理软件（LDL-02）数据管理软件（MCWAVE系列）不同厚度的标准片数据线LW-990打印机VZ-330打印机连线电脑连线RS-232C与USB的转换线。