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介电常数测试仪介质损耗测试仪
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介电常数测试仪介质损耗测试仪

产品价格:
电议
产品型号:
BDAT-A
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
北京北广仪器设备有限公司
所属地区:
北京市
发布时间:
2014/8/22 13:00:47

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李先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

北京北广仪器设备有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

所在地:北京市

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介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质损耗角正切值(tgδ)和电容值(Cx)的智能化仪  介质损耗测试仪图片器。
可以在工频高压下,现场测量各种缘材料、缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗角正切值(tgδ)和电容值(Cx)。
仪器为一体化结构,内置标准电容器和升压电源,体积小、重量轻,便于携带,具有操作简单、自动测量、读数直观、无需换算、高、干扰能力强等优点,亦可外接电源与本厂生产的各种规格的高电压等级的标准电容器配套使用,用以测量高压介损。
该仪器是发电厂、变电站等现场全自动测量各种高压电力设备介损正切值及电容量的高仪器。能在强电场干扰下准确测量。
仪器增加了中文菜单功能,操作更为简单,方便。操作,微机自动完成全过程的测量。
是目前理想的介损测量设备。
该仪器同样适用于车间、试验室、科研单位测量高压电器设备的tgδ及电容量;配以缘油杯可测试缘油介质损耗。
该仪器可用正、反接线方法测量不接地或直接接地的高压电器设备。 

五、特点:n 
自动简单 接线简单(正接法两根线,反接可使用一根线),电缆线均有接地屏蔽,所以拖地使用,测量电压缓升、缓降,全自动测量,结果直读,无须换算。
n 多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损n 震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。n 干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路,将矢量运算法与移相法结合,地消除强电场干扰对测量的影响,适用于n CVT测量 自激法测量CVT功能,不需外加任何设备,可完成不可拆头CVT的测量。接线(三根电缆,不用倒线),一个测量过程(大约1分钟),两个终测量结果(C1和C2的介损及电容值)。测量过程中文显示,能实时监测自激电流值和试验电压(高压)值。能消除引线对测试的影响,测量结果准确。n 措施(1)高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能切断高压输出。(2)CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。(3)接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。(4)误操作:具备误操作设计,能判别常见接线错误,报警。(5)“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。n VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器,在严冬和盛夏清晰显示。全中文操作菜单,操作提示各种信息,直观明了,不需查阅说明书即可操作。n 打印 仪器附有微型打印机,以中文方式打印输出测量结果及状态。n RS232 仪器具有RS232接口,与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。n 可选购与计算机通信应用程序。

 

六、技术指标:

介电常数介质损耗测试仪电感器:

按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。

例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。

 

高频介质样品(选购件):
在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚12mm测试样品。用户可按需订购,以测试装置的重复性和准确性。

 

 介电常数介质损耗测试仪特点: 

◎ 本公司的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005

◎ 能对固体缘材料在10kHz120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值8nH100MHz(tanδ)(ε)的误差较小。

◎ LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz60MHz, 50kHz160MHz测试信号。信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 

介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。

缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

同样,由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化,通过公式计算得到介电常数。

 

介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:

 

2.1 tanδε性能:

2.1.1 固体缘材料测试频率10kHz120MHztanδε变化的测试。

2.1.2 tanδε测量范围:

tanδ0.10.00005ε150

2.1.3 tanδε测量(1MHz):

tanδ±5%±0.00005ε±2%

工作频率范围:50kHz50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:11000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH


介电常数介质损耗测试仪装置:

2.3.1 平板电容器片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2
平板电容器间距可调范围和分辨率:08mm,±0.01mm
2.3.3
圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4
圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF
2.3.5
装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6
装置损耗角正切值:2.5×10-4


满足GBT-1409-2006标准

5Q合格指示预置功能:预置范围:51000

   6Q表正常工作条件

   a. 环境温度:0+40

  b.相对湿度:<80%;

  c.电源:220V±22V50Hz±2.5Hz

   7.其他

  a.消耗功率:约25W

   b.净重:约7kg

   c.外型尺寸:(宽××深)mm380×132×280

 

使用方法

高频Q表是多用途的阻测量仪器,为了测量,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。

1.测试注意事项

a.本仪器应水平安放;

b.如果你需要较地测量,请接通电源后,预热30分钟;

c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;

d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,粗,并应接触良好、,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;

e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,要时可用低损耗的缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;

f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)


介电常数介质损耗测试仪维修

1.新购仪器的检查

新购的仪器能先用LKI-1电感组,将各个电感在各个不同频率测试Q值,把测试的情况,例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录,并把记录保存起来,以供以后维修时作参考。

LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的,不能把这些电感当作高的标准电感看待。随着测试环境条件不同,测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。

2.使用和保养

高频Q表是比较精密的阻测量仪器,在合理使用和注意保养情况下,才能长期稳定和较高的测试。

a.熟悉本说明书,正确地使用仪器;

b.使仪器经常保持清洁、干燥;

c.本仪器期为18个月,如发现机械故障或失去准确度,可以原封送回本厂,修理。


联系方式

北京北广仪器设备有限公司

联系人:
李先生
手机:
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所在地:
北京市
类型:
工厂
地址:
北京市海淀区建材城西路

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