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X-MET5100 手持式 X 射线荧光光谱仪保证了铝及钛合金的实验室质量分析的性，它对检测铜、镍和钢等金属材料中含有的轻金属元素时的敏感性也是无与伦比的，无需借助复杂的真空泵或氦气罐等附属设备就可对镁、铝、硅等轻元素进行测量。硅漂移探测器 (SDD)、45 千伏 X 射线管和经验系数分析方法的强大结合，意味着 X-MET5100 可以在短短 1 秒钟内，准确地分析和确定金属合金成分。受限物质（重金属元素）、玩具中的铅、土壤中的污染物和矿石中的微量物质可以得到准确测量，其速度之快，在从前是绝无可能的。在几秒钟之内，就可以得到 ppm 级的痕量元素检测结果。
这款坚固的便携式 XRF 轻元素测试工具，专为以下行业应用而设计：
- 金属材料可靠性鉴定（PMI）
- 废旧金属回收行业
- 环境重金属监测（土壤和RoHS）
- 航空和汽车工业
- 矿石勘察、现场挖掘控制和矿山制图
X-MET 可对矿石进行快速现成分析
高度和可再现的
样品分析
只需扣动开关，牛津仪器推出的 X-MET5000
与 X-MET5100 X射线荧光（XRF）分析仪就能
进行快速、的现场样品筛选及分析。
两款分析仪均可在几秒钟内提供实时数据，应用包括：
• 矿石勘探
• 现场挖掘控制
• 矿山制图
• 过程监测：精矿、尾矿等
• 环境控制
此外，X-MET 还具有的便携式GPS集成装置，用于
进行矿石勘查和矿山制图。
实现对实验室分析需求的小化
铝元素至铀元素的分析
• 可靠的铝、硅、磷、硫分析，无需真空或氦气
的辅助装置
• 可直接测试岩心样品
• 经 IP54 (NEMA 3) ，防水防尘
• 几秒钟内即可获得分析结果
可选的简易操作软件实现无与伦比的分析
• 通用的基本参数法分析模式，分析无已知标样
的矿石样品
• 用户自定义合格/不合格快速筛选模式
• 用户界面支持语言超过10种
• 可将数据快速传输至电脑
硅漂移探测
器技术大大
提高生产力！
先进的 X-MET5100 将牛津仪器的硅漂移探测器 (SDD)
和强大的45千伏 X 射线管结合起来，显示了仪器设计上
的革命性突破。与普通设备相比，应用该项技术能使
测量速度提高5倍，进一步优化检测极限并显著提高测量
。现在正是使用 X-MET 以提高您的生产效率和筛选
分析结果可信度的时候。
仪器坚固、可靠，可实现快速而的分析
可经受所有天气条件和恶劣操作环境
• 经 IP54 (NEMA 3) ，一流的防尘与防潮性能
• 高强度的环境密封型外壳
• 电池可提供长效的操作时间，电量指示器位于电池
及用户界面上
高性能
• 快速同时分析矿石勘探过程中的全部重要
元素，包括铁、铜、铬、铅、锰、镍、钴、
钼、钽、钨等的含量
• 可分析样品中的铝、硅、磷、硫元素，无需
借助真空或氦气。(X-MET5100)
• 先进的自动校准功能。
• 一般情况下，根据所需测试的元素和所
要求的不同，可在 10 - 30 秒内
X-MET5000) 或 2 - 5 秒内 (X-MET5100
迅速完成测试
• 检测下限低，X-MET5000 通常可用 120 秒
的测量时间检测 5 - 30 ppm 的浓度。
X-MET5100 具有更低的检测下限，只需在
10 - 30 秒内即可完成浓度 ppm 水平分析
• 高效批量鉴定功能—自动计算 2 - 50 个测定值
的平均值，并在测试日志文件中同时保存单个
检测结果和平均检测结果
不同分析模式供选择
• 无标样时可选择基本参数校准模式
• 此方法可测定原子序数从铝到铀间的
30 多种元素 (X-MET5100) 及钾到铀间的
元素 X-MET5000)
• 此方法可适用于多种矿石类型
• 需测试结果时可选择经验系数
方法
• 可使用随即软件现场创建自定义校准
程序
快速简便的样品测定
无需准备样品，可直接在待测物体表面
进行测定，以进行快速预筛选
• 可在“台式”工作模式时使用样品袋
或样品杯收纳样品进行测试 | 
