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金属镀层测厚仪；荧光X线膜厚计；荧光膜厚计；韩国镀层测厚仪；荧光X线镀层测厚仪 |
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| 产品型号： |
XRF-2000 |
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| 产品简介： |
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| 韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度. | |
| 主要技术参数： |
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可测元素范围： |
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钛(Ti) – 铀(U) |
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可测量厚度范围： |
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原子序 22-25，0.1-0.8μm |
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26-40，0.05-35μm |
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43-52，0.1-100μm |
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72-82，0.05-5μm |
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X-射线管：油冷,超微细对焦 |
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高压：0-50KV(程控) |
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准直器： |
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固定种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm |
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自动种类大小：可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm |
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电脑系统：IBM相容,17”显示器 |
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综合性能：镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 |
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镀层分析：可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. |
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镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. |
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定性定量分析：可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. |
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光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. |
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统计功能：能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质. |
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