桌上型X射线萤光分析仪（SEA6000VX）

产品品牌：

精工Seiko

产品型号：

SEA6000VX

产品特色：

1. 高速扫描测量
      通过组合了大幅提高的微小区域X射线莹光分析灵敏度和高速电动平台，能够快速获得二维扫描图像。特别是简化了对线路板中铅的扫描，配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。

2. 宽视野高清晰度光学系数       可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。以该光学影像可以直接指定测量位置，让操作性得到飞跃般的改善。此外，该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠，可在大范围内进行高分析。 3. 微小区域中微量金属的高速测量       实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器，加上充分考虑到X射线莹光检测效率的设计，实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间?测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。   4. 无需液氮的高计数率检测器       作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器，省去了繁琐的液氮补充程序。仅需数分钟的开机时间，同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳，以及提高测量速度後节省下的电力等，是一款考虑到环保问题的先进仪器。   5. 微小区域的镀层厚度测量       可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu（金/镍/铜）等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外，也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。 应用领域：

RoHS/WEEE

(1)满足欧盟RoHS指令，以及各国针对电子电机产品中有有害物质含量的快速检测分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。 (2)针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准，利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法，满足厂商简易的需求。

合金分析

(1)金属材料品质控管 :合金中主成份的快速分析。 (2)合金成份的鉴定 : 有效分辨材质相近合金种类，如∶304/321 (3)贵金属的分析鉴定 : 贵金属金、钯、铂、银等含量分析 (4)金属回收与分类 : 依金属成份含量做分类 (5)回收汽车催化剂中，金、铂、铑的成份分析

镀层厚度分析

(1)分析电子部品电镀层的厚度 (2)各类五金电镀件的镀层厚度管控分析 (3)各镀层的成分比例分析

映图扫描分析(Mapping)

(1)可进行PCB插件之後的直接分析，不需要拆解，100mmX100mm尺寸大小只要30分钟即可完成各项元素成份分布情况。 (2)直接分析各种组成元素的分部位置及浓度分布。 (3)结合样品影像及元素分布，标定元素位置。

太阳能应用

(1)CGIS太阳能厚度分布检测 多点位置成份材质鉴定

无卤素应用

(1)针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准，利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法，满足厂商简易的需求。 (2)快速分析无卤素成分分析。 无卤成分分布，或多点材料同时检测。