- 产品品牌:
- 凤凰Phenix
产品简介:
AFM-II和AFM-III是两款不同型号的原子力显微镜。它们的主要区别在于工作模式的不同,AFM-III比AFM-II型增加了AFM轻敲扫描模式(Tapping Mode)。另外,它们都集成了扫描隧道显微镜功能。
STM(扫描隧道显微镜)只能够用于扫描不容易氧化的导体性样品,AFM(原子力显微镜)没有这一限制,也可以扫描绝缘体样品。接触扫描模式(Contact Mode)是原子力显微镜的基本工作模式, 轻敲扫描模式(Tapping Mode)特别适用于检测生物样品及其它柔软、易碎、粘附性较强的样品。 用户应该根据被测样品的不同,选购合适的产品。建议用户在选型时先向我们咨询。
MicroNano AFM系列原子力显微镜均使用了 智能针尖连接技术 ,系统能够自动识别当前针尖类型,并将软硬件自动切换到相应的工作模式,无需人工干预。我们还采用了大范围自适应压电陶瓷扫描器技术, 不必更换扫描器,就能够用甚至到100μm的扫描器同时得到原子图像的分辨率。 另外,我们设计的 四通道物理量同步采集技术 能够为用户提供更多的原始数据来分析被测样品的客观状态,即使是进口仪器,也多只有两通道。 产品荣获自98年至2004年全国高教物理实验大会仪器评比业内的奖项。
用户还能够根据不同的科研需求,选购大范围的扫描器,以及高分辨彩色CCD观测系统和高样品X-Y移动平台,使操作更加方便、。
同我们所有MicroNano系列产品一样,无论您先购买了任何一款产品,都可以在今后选购相应的模块,将功能扩展至扫描隧道显微镜、原子力显微镜轻敲模式、磁力显微镜……
技术指标:
1.扫描模式:AFM-II型--STM恒流/恒高模式形貌检测, I-V/I-Z曲线测量;AFM接触/滑移模式形貌检测。 AFM-III型--STM恒流/恒高模式形貌检测, I-V/I-Z曲线测量;AFM接触/滑移/轻敲模式形貌检测。
2.纳米加工功能:电脉冲刻蚀,机械接触刻蚀。
3.扫描方式:扫描器与样品连接,采用样品扫描方式
4.样品尺寸≤Φ65mm,样品厚度≤15mm
5.扫描范围:AFM-II型--20μm×20μm
AFM-III型--50μm×50μm
6.分辨率:STM(X-Y向0.1nm;Z向0.01nm;HOPG原子定标)
接触模式AFM(X-Y向0.2nm;Z向0.03nm;云母晶格定标) 轻敲模式AFM( X-Y向0.2nm,Z向0.1nm)
7.四通道物理量同步采集功能,四通道同时对比成像。
8.智能针尖识别功能:系统能够自动识别当前针尖类型,软硬件自动切换到相应的工作模式,无需人工干预。
9.扫描角度:-180~180°
10.X-Y移动平台:移动范围3mm,移动5μm。
可以选配高X-Y移动平台(计算机控制,移动范围5mm×5mm,x-y步长350nm)
11.图像采样点:256×256 / 512×512 / 1024×1024
12.针尖 / 样品保护功能。
13.计算机与控制箱接口:并行口增强模式
14.采用双16位扫描/采样技术,相当于23位。
15.系统智能记忆、自学习功能:一旦一个参数改变,与之相关的参数会根据系统经验自动调节到范围。
16.软件适用于WIN98/2000操作系统,软件用户级开发模板,可以由用户用VB等进行二次开发,由于完成一些特殊的数据处理功能。 配套功能强大的MicroNano ChinaSPM 3.X软件系统
17.配套多媒体实验教学软件、实验教材、产品说明书、纳米技术科普教材。
18.与硬件无关的软件功能终身享受升级服务。
19.硬件可以模块化升级,只需贴补差价购买原子力显微镜、磁力显微镜等相应模块,就可升级,使二次购买投资更低
可选模块
50μm×50μm,70μm×70μm,100μm×100μm规格扫描器
高分辨彩色CCD观测系统
高样品X-Y移动平台
MicroNano 3000型 磁力显微镜功能模块