- 产品品牌：
- 华通检测
- 产品型号：
- 温度冲击试验
用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的助手。
两箱式冲击箱：测试样品的移动时间小于10秒，温度恢复时间小于5分钟。
三箱式冲击箱：温度转换时间小于5分钟。
温度冲击对产品的影响:
1、元器件涂覆层脱落、灌封材料和密封化合物龟裂甚至破密封外壳开裂、填充料泄漏等，使得元器件电性能下降；
2、由不同材料构成的产品，温度变化时产品受热不均匀，导致产品变形、密封产品开裂、玻璃或玻璃器皿和光学器等破碎、
3、较大的温差，使得产品在低温时表面会产生凝露或结霜，在高温时蒸发或融化，如此反复作用的结果导致和加速产品的腐蚀。
低温试验标准:
1、MIT-STD-883E Method
2、JESD22-B106
3、EIAJED- 4701-B-141
4、GB/T2423.22-1989温度变化试验；
5、GJB150.5-86温度冲击试验；
6、GJB360.7-87温度冲击试验；
7、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
10、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
11、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
我公司可靠性实验室可根据客户的需求，提供温度冲击测试服务。
