产品介绍: PV-2000系列无接触硅片厚度TTV电阻率综合测试系统为太阳能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、(总厚度变化)TTV、翘曲及无接触电阻率测量功能。并提供基于TCP/IP的数据传输接口及基于Windows的控制软件,用以进行在线及离线数据管理功能。 产品特点: ■ 使用MTI Instruments独有的推/拉电容探针技术
■ 每套系统提供多三个测量通道
■ 可进行、小、平均厚度测量和TTV测量
■ 可进行翘曲度测量(需要3探头)
■ 用激光传感器进行线锯方向和深度监视(可选)
■ 集成数据采集和电气控制系统
■ 为工厂测量提供快速以太网通讯接口,速率为每秒5片
■ 可增加的直线厚度扫描数量
■ 与现有的硅片处理设备有数字I/O接口
■ 基于Windows的控制软件提供离线和在线的数据监控
■ 提供标准及客户定制的探头
■ 提供基于Windows的动态链接库用于与控制电脑集成
■ 无接触,用涡电流法测量硅片电阻率 技术参数: ■ 晶圆硅片测试尺寸:50mm- 300mm. ■ 厚度测试范围:1.7mm,可扩展到2.5mm. ■ 厚度测试:+/-0.25um ■ 厚度重复性:0.050um ■ 测量点直径:8mm ■ TTV 测试: +/-0.05um
■ TTV重复性: 0.050um ■ 弯曲度测试范围: +/-500um [+/-850um] ■ 弯曲度测试: +/-2.0um ■ 弯曲度重复性: 0.750um ■ 电阻率测量范围:0.1-50ohm-cm
■ 电阻率测量:2% ■ 电阻率测量重复:1% ■ 晶圆硅片类型:单晶或多晶硅 ■ 可用在:切片后、磨片前、后,蚀刻,抛光以及出厂、入厂质量检测等 ■ 平面/缺口:所有的半导体标准平面或缺口 ■ 连续5点测量 典型客户: 美国,欧洲,亚洲及国内太阳能及半导体客户。