老化房/老化烧机实验室
用途：适用于计算机、终端机、电源供应器、电子交换机、等电子组件寿命测试。为早期发现不良品之移处，产品的性、为控制成本和保护产品之手段。特点：内容积可任意放大缩小，随使用者环境需求而设计。
组合式库板，拆装方便，结构简单，强制送风循环设计，可避免箱内的气流角减少实验室的温度而对试验样品的影响，同时能做到高均匀度的要求。
宽敞明亮之大窗口，让使用者可观测到试验箱内的状况
之进风，排风设计可以只测试产品之发热量而升温
被测产品之电源自动通断时序控制器及周边配套设备。
技术参数：
规格型号 | 老化烧机试验机R-BIR-型 |
温度范围 | 常温+10~70℃ |
温度稳定度 | &plun;0.5℃ |
温度分布均匀度 | &plun;3℃ |
温湿度偏差 | ≦&plun;2℃ |
升温时间 | 依据箱体而定 |
降温时间 | 依据箱体而定 |
结构尺寸 | 又客户任意提供 |
结构材质 | 拆装组合步入式库板：内箱：才钢板喷塑，外箱：才钢板喷塑，保温层：pu发泡 |
加热系统 | 不锈钢鳍片式加热不管加热空气循环方式 |
保护装置 | 无熔丝过载探保护，运风机过流，箱内温，加热干烧，烟雾探测警报系统 |
功率 | 依据箱体而定 |
电源 | AC3￠5W380V50HZ |
注：在环境温度+25摄氏度时，空载条件下以内箱离各扁1/6距离空间测得的数据。
