高压加速老化试验箱 P饱和试验箱
随着半导体性的，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即P和USP 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。现在就P饱和高压加速老化试验箱。
1、产品型号规格
名称
| P高压加速老化试验箱 饱和老化寿命试验箱
P—55 |
2、规格材料 温度范围
| P内箱尺寸：500x650mm P外箱尺寸：850x1300x1450（W.H.D) 10℃~132℃（143 ℃按客户要求） |
3、严禁产品
|
（1)腐蚀性物品禁止试验箱内 （2）易燃、易爆、易炸物品禁止试验 （3）氢汽、氧汽之类在15度以下可燃物品 |
| 湿度范围 |
100%RH饱和蒸汽
|
压力范围
| 表1、+0.2~2.0kg/cm2 表2、+0.2~3.5kg/cm2 |
温度精准率 | 0.1准确压力 |
准确温度湿度
| &plun;0.5℃，100%湿度 |
加压准确时间标准 | 一般45分钟~55分钟 |
功能方式
| 浮球补水功能 |
装置
| （1）缺水报警安装指示灯鸣叫 （2）双重阀：排除压蒸汽（3）门要锁好才能驱动工作（4）电源要仔细检查 |
