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产品介绍：
如果电子模块和设备在burst和D脉冲测试中发生功能失效，那么被测设备（EUT）须进行修改。E开发系统被用于快速和的确定EUT内功能失效的原因，用户能够找出多少以及为什么的导线和元件被影响，这允许用户直接在电路上或在布局布线中进行适宜的纠正行为。SGZ21 burst产生器可以产生须的测试脉冲，这些脉冲通过导线连接或通过磁场或电场源被耦合到EUT中，在测试过程中，通过一个传感器和EUT内部测量得到的干扰电流，信号可以被。
包括：
Burst产生器SGZ21
磁场探头MS02
磁场源探头BS02
磁场源探头BS04 DB
磁场源探头BS05 D
磁场源探头BS05 DU
电场源探头00
电场源探头01
电场源探头02
电场源探头05 D
电场源探头08 D
附件
使用说明
带有泡沫塑料填充的包装箱
