CIT-3000SYB/SDB 能量色散X荧光分析仪简介
CIT-3000SYB/SDB 能量色散X荧光分析仪是重点新产品，一款国内水平的精密分析仪器，具有无须对样品处理、分析速度快、分析高、操作简单、测量成本低等显著优势。应对欧盟ROHS指令/ELV指令、中国《电子信息产品污染控制管理办法》及美国和欧盟的玩具法规和指令，产品和用料的绿色。该产品适用于无卤素检测、ROHS检测等检测。合国际电工委员会IEC62321标准及中国标准所规定的技术要求和技术规范。
一、工作原理
X射线发生器放出的X射线与样品中元素的原子相互作用，逐子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线－特征X射线。根据受激后退激过程中所放出的特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。
二、仪器基本特点
? 探测器采用美国航天技术的半导体探测器，能量分辨率149ev；
? 真空测量，限度的测量元素的检测限，有利于卤素测量；
? 自动调整光管功率，对激发轻元素和中重元素都有良好的激发效果；
? 圆形品仓设计，适应于各种样品的检测，可以测量国体、液体、粉末；
? 开放式工作曲线标定平台,可量身定做的有害物质检测和控制方案；
? 采用国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等
多种经典分析方法，测试数据的准确性。
? 采用模式识别及数据库技术，实现仪器分析智能化；
? 配置滤光片装置大幅峰背比；
? 校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
? 可根据用户要求自行定制测试输出格式（Excel、PDF等），合工厂多种统计及格式要求。
? 可以在ROHS分析软件上开展不锈钢、合金、贵金属及全元素分析。
? 一体化设计，性能稳定，运行，；
? 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）检测；
? 双重射线保护（软件、硬件），操作人员辐射，获四川局豁免管理。
三、主要技术指标
?分析元素范围：Mg-U；
? 元素含量分析范围：1ppm -99.9%；
? 采用美国的Si (PIN)半导体探测器计数，能量分辨率140eV；
? 测量范围：1－30KeV；
? 重复性： >65% >97%(N为计数率)；
? 正高压：5kV-50kV；管流：1μA-500μA；
? 真空泵额定功率：550W；
? 仪器额定功率：50W；
? 整机能量分辨率：145eV；
? 检测时间：120S～600S（时间随样品而调整）；
? 10秒钟真空度可达10-2Pa ，高真空区域10-1-10-5Pa；
? 检出限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20ppm；
? 仪器重量：40Kg；
? 仪器尺寸：700（W）* 400（D）*430（H）mm；
四、仪器配置
1 主机1台（大功率钨靶X光管、50KV正高压电源、Si (PIN)电致冷半导体探测器、2048道分析器）
2 压样模具1套
3 真空系统1套
4 压样机1套
5软件1套
6 品牌计算机1套
7 激光打印机1台
8 吸尘器1台
9 随机配件1套
五、实测谱图
