AP系列二维光学测量机以的精密光栅测量系统结合计算机辅助误差修正软件了测量的高。的图象处理及多样化的自动寻边采点功能取代了目视瞄准手工记数的传统测量方式，大的了工作效率并消除了人为误差。7种不同的瞄准方式给用户提供了更多的选择。编程及自学习编程功能令同一工件（或同类工件）的批量（或重复）测量更为轻松。
AP系列二维光学测量机技术参数
技术描技术参数
l 全机台采用00级花岗岩石.立柱结构.
l 行程: X轴300mm Y轴200mm Z轴200mm
l 定位(重复度): 2um(0.002mm)
l 操作方式: 手动
l 量测分辨率: 0.001mm
l 传动系统: 德国无牙螺杆
l 精密测头: Renishaw高接触式测头（可选配）
l CCD影像： 华旗的130万像数COMS摄像机。
可选配德国的theimagingsource（另加3000元人民币）
l 镜头： 定格定倍0.7X-4.5X，标配
l 示值误差： ≦3+L/150（X，Y，Z）
l 电脑标配： 海尔CR2.0G/1G内存/160G硬盘/17寸LCD（选配，另加3000元人民币）
l 机器重量： 500KG
l 软件系统: AP-DMIS V5全动能版(含三次元,抄数,影像功能但需硬件相配支持
