仪器简介：
DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与目的测量相结合的完善产品。
●硬件系统和软件系统的结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要
●高的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果
●高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量
●程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观
X射线衍射仪是材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：
●未知样品中一种和多种物相鉴定
●混合样品中已知相定量分析
●晶体结构解析
●规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）
●材料表面膜分析
●金属材料织构、应力分析
技术参数：
| 型号 | DX-2000 | DX2500 | DX-2700 | DX-2800 |
| 标定功率 | 4kW | 3kW(高频高压控制技术） | ||
| 管电压 | 10-60kV | |||
| 管电流 | 5-80mA | |||
| X射线管 | 玻璃管、陶瓷管、波纹陶瓷管：Cu、Fe、Co、Cr、Mo等功率2kW 金属陶瓷管：2.4kW | |||
| 焦点尺寸 | 1×10mm或是0.4×14mm或是2×12mm | |||
| 稳定度 | ≤0.01% | ≤0.001% | ||
| 测角仪结构 | 卧式（θ-2θ） | 立式（θ-2θ） | 样品水平（θ-θ） | |
| 衍射圆半径 | 185mm | 225mm | ||
| 扫描范围 | 0-164 | θs:-3-80°、θd:-3-80°（-6-160°） | ||
| 扫描速度 | 0.0012°-70°min | |||
| 角度定位速度 | 1500°-min | |||
| 扫描方式 | θ-2θ联动，θ、2θ单动；连续或是步进扫描 | θs/θd联动、单动；连续、步进扫描 | ||
| 角重复 | 5/10000° | |||
| 小步进角度 | 1/10000° | |||
| 探测器 | 正比（PC)或闪烁（SC) | 硅漂移探测器（SDD） | ||
| 线性计数率 | 5×105CPS（带有漏计数补偿功能） | 1×106CPS | ||
| 能量分辨率 | ≤25%（PC)、≤50%（SC) | ≤20% | ||
| 计数方式 | 微分或是积分方式、自动PHA、时间校正 | |||
| 系统测量稳定度 | ≤0.01% | |||
| 散射线剂量 | ≤1μSv/h（X射线护装置外） | |||
| 仪器综合稳定度 | ≤0.5% | ≤0.1% | ||
| 外形尺寸 | 1000×800×1600mm |
X射线衍射仪可以分析天然或是人工合成的无机或是材料，广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。
●基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装
●金属陶瓷X射线管的应用，大衍射仪运行功率
●封闭正比计数器，耐用免维护
●硅漂移探测器具有的角度分辨率和能量分辨率，测量速度3
●丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要
●模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件
光学系统转换
不需要拆卸索拉狭缝体，就可以单独更换索拉狭缝结构。由于这一特点，不需要重新调整仪器，就可以实现聚焦光学系统和平行光学系统的转换。
早前聚焦法光学系统和平行光束法光学系统分别需要配置弯曲晶体单色器和平面晶体单色器，光学系统的转换需要对光学系统重新校正。采用本系统只要将单色器的晶体旋转90°、更换狭缝结构，就可以实现光学系统的转换。
数据处理软件包括以下功能
基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）；
●无标准样品快速定量分析
●晶粒尺寸测量
●晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）●宏观应力测量和微观应力计算；
●多重绘图的二维和三维显示；
●衍射峰图群聚分析；
●衍射数据半峰宽校正曲线；
●衍射数据角度偏差校正曲线；
●基于Rietveld常规定量分析；
●使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析；
●使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析；
DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有强的分析能力
高的机械加工，使附件安装位置的重现性大地，实现即插即用。不需要对光路进行校准，只要在软件中选定相应的附件就可以实现目的测量。
多功能样品架
随着材料研究的深入，越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。
●碾轧板（铝、铁、铜板等）织构测量及评价
●金属、陶瓷等材料残余应力测量
●薄膜样品晶体优先方位的评价
●大分子化合物取向测量
●金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析
织构使材料呈现各向异性，利用织构和材料的性能、充分发挥材料性能的，是材料科学研究的重要工作之一。虽然检测材料织构方法很多，但是广泛应用的还是X射线衍射技术。
